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深圳大茂电子有限公司苏州办事处
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CMI760(PCB专用铜厚测试仪)
CMI760(PCB专用铜厚测试仪)
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公司名称: 深圳大茂电子有限公司苏州办事处
企业类型: 企业
所 在 地: 苏州三香路1298号光大银行大厦21楼E1
联 系 人: 先生
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CMI760(PCB专用铜厚测试仪)
牛津仪器测厚仪器CMI 760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡 流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多 功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及 孔内铜质量测试的多种应用需求。同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。 CMI 760配置包括: --CMI 760主机 --SRP-4探头 --SRP-4探头替换用探针模块(1个) --NIST认证的校验用标准片 选配配件: --ETP探头 --TRP探头 --SRG软件 SRP-4面铜探头测试技术参数: --铜厚测量范围: --化学铜:10 μin ?C 500 μin (0.25 μm ?C 12.7 μm) --电镀铜:0.1 mil ?C 6 mil (2.5 μm ?C 152 μm) --线形铜可测试线宽范围:8 mil ?C 250 mil (203 μm ?C 6350 μm) --准确度:±1% (±0.1 μm)参考标准片 --精确度:化学铜:标准差0.2 %;电镀铜:标准差0.5 % --分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm ETP孔铜探头测试技术参数: --可测试最小孔直径:35 mils (899 μm) --测量厚度范围:0.08 ?C 4.0 mils (1 ?C 102 μm) --电涡流原理:遵守ASTM-E376-96标准的相关规定 --准确度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) --精确度:1.2 mil(30μm)时,达到1.0% (实验室情况下) --分辨率:0.01 mils (0.1μm) TRP-M(微孔)探头测试技术参数: --最小可测试孔直径范围:10 ?C 40 mils (254 ?C 1016 μm) --孔内铜厚测试范围:0.5-2.5mils(12.7-63.5μm) --最大可测试板厚:175mil (4445 μm) --最小可测试板厚:板厚的最小值必须比所对应测试线路板的最小孔孔径值高3mils(76.2μm) --准确度(对比金相检测法):±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm) --精确度?
联系方式
公司名称:
深圳大茂电子有限公司苏州办事处
联 系 人:
李林灏先生
电 话:
86-512-68299385
传 真:
86-512-68299386
手 机:
0512-6930372
公司网站:
http://www.damaochina.com
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